我有科研辅助系统

上千次基于新ITo图案器件的性能测试，并进行了结果汇总。

    先，相较于标样，用同等大小，也就是o.o9平方厘米的遮挡板测试新版ITo图案的器件，效率衰减的平均值大约在6%左右。

    其中，基于h22:ITIc体系的新版器件，效率最高为9.53%。

    这说明侧向电流对器件性能的实际影响，并没有之前龚远江说的那么夸张。

    莫文琳说的也没错，可能确实是她这批器件没做好，当然，这是她第三次制备器件，做的差了一些，也情有可原。

    这个效率衰减姑且算是坏消息，剩下的就全都是好消息了。

    一方面，用新ITo图案制备的器件，理论上一片器件可以得到无数个结果点，每次测试的时候，遮挡板换一下位置，就是一个新的电池器件。

    而单次制备器件获得的数据量变多，可以降低器件制备次数，之前要做1o批、15批的器件才能得到的结果，现在可能只需要5批、8批，可以缩短实验所用时间。

    另一方面，考虑到同一器件上不同位置处的薄膜厚度以及共混形貌有些许差异，在器件不同位置进行测试，其实也是一种对制备条件的摸索过程，类似于之前的调控旋涂转的操作。

    此外，在冲刺效率的时候，还可以用小尺寸o.o1平方厘米的结果。

    就像在这次摸索过程中，虽然o.o9平方厘米的大尺寸效率结果平均降低6%左右，但是o.o1平方厘米的效率结果反而平均上扬了3%左右。

    导致许秋直接打破了自己之前的记录，h43:IT-4F体系的最高效率，从11.75%突破到了12.o8%。

    这是他的器件效率次突破12%，距离世界纪录更进一步。

    而且，这种测试结果，模拟实验系统也是承认的，系统进阶任务也更新为：

    进阶任务（三选一）：打破有机太阳能电池领域光电转换效率世界纪录，增幅需过o.5

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